S wide 是專用系統，適用於快速測量大樣品區域，測量面積最高可達 300 x 300 mm。它具有集成了數位顯微鏡的高解析度測量儀器的所有優點。一鍵式採集功能，易於使用。

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亞微米高度 可重複性，整個擴展區域內

無需 Z 軸掃描即可測量最高 40mm 的單次測量高度

具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

ISO 標準

可追溯性
每一款 S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而製造的。系統根據 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準。

與 3D CAD 模型的形狀偏差
提供幾何差異和公差測量