S wide 是专用系统，适用于快速测量大样品区域，测量面积最高可达 300 x 300 mm。它具有集成了数字显微镜的高分辨率测量仪器的所有优点。一键式采集功能，易于使用。

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亚微米高度 可重复性，整个扩展区域内

无需 Z 轴扫描即可测量最高 40mm 的单次测量高度

具有极低场失真的双侧远心镜头，提供精确的测量

ISO 标准

可追溯性
每一款 S wide 产品都是为提供准确且可追溯的测量结果而制造的。系统根据 ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯标准进行校准。

与 3D CAD 模型的形状偏差
提供几何差异和公差测量